Реферат: Элементарные частицы в виде корпускул и волн и модель атома
Название: Элементарные частицы в виде корпускул и волн и модель атома Раздел: Рефераты по физике Тип: реферат | ||||||||||
БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ Кафедра электронной техники и технологии РЕФЕРАТ На тему: «ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ЧАСТИЦЫ В ВИДЕ КОРПУСКУЛ И ВОЛН И МОДЕЛЬ АТОМА» МИНСК, 2008 Введение Принцип действия электронных, ионных и полупроводниковых приборов базируется на движении свободных частиц, которые благодаря своему заряду подвержены воздействию со стороны электрических и магнитных полей. Различают четыре группы частиц, используемых в этих приборах, а именно: электроны, ионы, нейтральные атомы, или молекулы, и кванты электромагнитного излучения (фотоны, кванты рентгеновского и γ-излучения); свойства этих частиц и их поведение определяют принцип действия прибора. 1. Основные сведения об элементарных частицах1.1. Электрон.Заряд е=1,6*10-19 к (в уравнения подставляется положительная величина). Масса m=9,1*10-28 г . e/ m=1,76*108 к/г , или (в технической системе единиц) e/ m≈1,8*1015 см2 /в*сек2 . m/ mH =1/1835 (mH - масса атома водорода). Радиус r ≈ 10-13 см . Энергия Ek = 1/2 mv2 = eU . Скорость , км/сек. (1) 1.2. ИоныВ качестве примера приведены данные для иона Н+, иона Не+ и иона Hg+. Скорость иона можно определить из уравнения (1), если вместо m подставить массу иона mi , а вместо элементарного заряда е заряд иона qi (положительный).
* Для однозарядных ионов; у многозарядных ионов заряд в кратное число раз больше. 1.3. Кванты излучения(Оптическое, рентгеновское и радиоактивное излучение) «Масса» mф = Еф /с2 = h/сλ , Вт*сек3 /см2 *. Энергия Eф = hv = hc/ λ = eUф ; отсюда следует: , в ; λ[Å]. (2) Постоянная Планка h = 6,625*10-34 вт*сек2 ; v - частота, Гц; с - скорость света, см/сек; λ - длина волны, см, или Å; vλ = c , Uф - вольт-эквивалент энергии фотона, в. Энергия квантов оптического излучения в инфракрасной области равна примерно 10-3 – 1,5 эв ** , в видимой области 1,5 - 3,3 эв ; в ультрафиолетовой области 3,3 - 102 эв . Энергия квантов рентгеновского излучения равна 0,1 - 1 000 кэв . Энергия β - и γ-излучения радиоактивных материалов от 0,01 до 10 Мэв [Со60 (γ): 1,33 Мэв, Sr90 (β): от 0,6 до 2,2 Мэв, Т3 (тритий) (β) : 0,018 Мэв]. Энергия космических лучей от 103 до 1012 Мэв. 2. Представление элементарных частиц в виде корпускул и волнОсновные сведения об элементарных частицах, приведенные в разделе А, могут быть получены с помощью достаточно простых экспериментальных устройств. 2.1. Некоторые экспериментальные методы определения заряда, массы и длины волны электронаОпределение заряда электрона е. Заряд электрона (элементарный заряд) е может быть определен посредством следующего опыта (опыт Милликена). В микроскоп наблюдают за движением помещенной между обкладками конденсатора частицы, заряженной одним или несколькими элементарными зарядами. Как видно из рис. 1, отрицательно заряженная в дуговом разряде капля масла помещается в воздухе между обкладками горизонтально расположенного конденсатора, к которым приложено напряжение. На каплю действуют сила тяжести М g (М - масса масляной капли, g - ускорение силы тяжести) и в противоположном направлении сила со стороны приложенного поля еЕ и сила сопротивления воздуха 6πη i av , где η i - коэффициент вязкости воздуха, a - измеренный радиус частиц. Отсюда для случая равновесия (когда частица неподвижна, v = 0 ) справедливо соотношение ; ; (3) е [а*сек], М [вт*сек3 /см2 ], g [см/сек2 ], d [см], U [в], Е [в/см] . В этом равенстве g, в и U известны. Рис. 1. Конденсатор Милликена для определения элементарного заряда. 1 - нейтральная капля масла (заряжается в дуге); 2 - падающая положительно заряженная капля масла (заряжается положительно в дуговом разряде или в результате фотоэффекта); 3 - отрицательно заряженная капля масла (отрицательный ион или электрон); 4 - положительно заряженная капля масла (положительный ион); 5 - дуга; 6 - обкладка конденсатора; 7 - источник света. Масса М частицы может быть найдена, если знать скорость падения частицы v в незаряженном конденсаторе: M = 6 πηi av/ g; Таким образом, из (3) может быть найдена величина элементарного заряда е . Если каплю масла, находящуюся в равновесии, подвергнуть облучению ультрафиолетовым светом, то вследствие внешнего фотоэффекта она может отдать свой заряд. При этом внезапный подъем или внезапное падение такой частицы в конденсаторе является доказательством квантовой природы заряда, освобожденного светом, и тем самым атомистической природы электричества. Определение массы электрона m по давлению электронного луча. Величину массы электрона можно определить путем измерения силы, с которой действует электронный луч на электрод в вакууме. Этой силе противодействует измеряемая на опыте сила закручивания нити, на которой подвешен бомбардируемый электронами электрод (рис. 2). При равновесии нити обе силы уравновешиваются. Сила F , с которой действует поток электронов на электрод, равна изменению полного импульса всех электронов, ударяющихся в единицу времени об электрод. Если mv - импульс одного электрона и он полностью передается электроду, то , откуда (4) где I – электронный ток на электрод, U - анодное напряжение и I/е - число электронов, достигающих электрода в единицу времени. Рис. 2. Схема установки для определения массы электрона по давлению электронного луча. 1 - катод; 2 - анод; 3 - бомбардируемый электрод; 4 - электронный луч. Если в уравнение (4) подставить численные значения для e и m , то получим: [Г]*, I[ a], U[в] (4a) Примеры и применения. Определение силы, с которой действует электронный луч на анод в рентгеновской трубке, применяемой в медицине (с электрическими параметрами I = 1 а, U = 250 кв); согласно равенству (2.4а) сила F = 0,175 Г. Определение силы воздействия протонов в космотроне (масса mH ; m/ mH = 1835) при I = 1 а и U = 3*109 в сила F = 800 Г (в течение 10-7 сек). Определение силы тяги космического корабля (с плазменным ионным двигателем на ионах цезия (mCs / m = 5*102 ); при токе I = 103 а и напряжении U = 104 в сила тяги Fs ≈ 17 кГ . Если F известно, то, подставляя остальные данные в уравнение (4), можно определить неизвестную массу атома. Методы определения удельного заряда электрона е/ m . а) Метод торможения вращающейся проволочной катушки. Согласно Толману и Стюарту в движущемся твердом теле (например, в катушке из проволоки, вращающейся вокруг оси с большой скоростью, рис. 3) при его внезапном затормаживании вследствие инерции электронов возникает импульс тока. Изменение механического импульса электронов проводимости Me v , возникающее при торможении тела до полной остановки в течение времени t2 – t1 приводит к появлению импульса тока . Так как , то или , (4б) где R, ом - сопротивление проволочной катушки; l , см - ее длина; v , см/сек = 2π rn - линейная скорость вращения катушки; n , 1/сек - число оборотов катушки в секунду; e , а*сек - заряд электрона; М e , вт*сек3 /см2 - полная масса всех движущихся электронов; I , а - мгновенный ток; Fe , вт*сек/см - сила инерции всех электронов в катушке. Измеряя баллистическим методом величину , можно рассчитать значение е/М e и, зная полное число квазисвободных электронов в катушке, найти величину отношения e/ m . Рис.3. Схема метода определения отношения заряда электрона к его массе (е/ m) при резком торможении вращающейся проволочной катушки. 1 - гальванометр; 2 - вращающаяся катушка. б) Метод электроннолучевой трубки, помещенной в поле земного магнетизма. На электронный луч с силой тока I действует со стороны магнитного поля с индукцией В отклоняющая (центростремительная) сила, равная Fц = [I xB ]. При сечении электронного луча, равном 1 см2 , концентрации электронов n и скорости электронов v0 , выражение для плотности тока j имеет вид: (5) (j [а/см2 ], n [1/см2 ], e [а*сек], v0 [см/сек]). Сила, действующая на один электрон (n=1 ), равна: Fц = e [v0 xB ] или Fц = e v0 B sin α (6) (Fц [вт*сек/см ], е [а*сек ], v0 [см/ сек ], В [в*сек /см2 ], α - угол между векторами v0 и В ). Направление силы совпадает (в случае положительно заряженной частицы) с направлением поступательного движения винта с правой резьбой, когда направление его вращения совпадает с направлением поворота вектораv0 по кратчайшему пути к вектору В . Направление силы, действующей на отрицательно заряженную частицу, будет противоположным. В однородном магнитном поле (B0 = const) при v0 = const сила Fц будет постоянной. Если, кроме того, векторы v0 и В взаимно перпендикулярны, то частица будет двигаться по кругу. Радиус круга может быть найден из условия, что “магнитная” центростремительная сила Fц равна центробежной силе Fz : . Отсюда (7) (R [см], m [вт/сек3 /см2 ], v0 [см/сек], е [а*сек], В [в*сек/см2 ]) С помощью равенства (7) можно рассчитать то отклонение у , которое испытывает электродный луч в трубке Брауна при действии магнитного поля (например, магнитного поля земли). Как видно из рис. 4, для малых отклоняющих углов (малые у ) справедливо соотношение и (8) Если в трубке Брауна измерить отклонение у , то по соотношению (8) можно определить величину отношения е/ m (9) Величина e/ m имеет размерность см2 /в*сек2 , если в формулу для е/ m подставить U0 (анодное напряжение в трубке Брауна) в вольтах, D (протяженность действия магнитного поля) в см и В в в*сек/см2 . Магнитная индукция В может быть определена, например, по измерениям периода колебаний стрелки компаса. Рис.4. Определение е/ m с помощью электроннолучевой трубки, помещенной в магнитное поле земли. 1 - магнитное поле земли (индукция В ); 2 - электронный луч. Указанный метод измерений применяется и как «электронный» компас, так как величина отклонения у достигает максимума, когда ось трубки перпендикулярна к горизонтальной компоненте поля земного магнетизма, и тем самым перпендикулярна к направлению север - юг. (На магнитном полюсе показания будут ошибочными.) Для быстрых электронов отношение е/ m может быть определено с помощью камеры Вильсона, помещенной в магнитное поле. Литература1. Достанко А.П. Технология интегральных схем.-Мн: Вышэйшая школа, 2002 - 206 с. 2. Гурский Л.И., Степанец В.Я. Проектирование микросхем.-Мн.: Навука i тэхнiка, 2001 - 295 с. 3. Гурский Л.И., Зеленин В.А., Жебин А.П., Вахрин Г.Л. Структура, топология и свойства пленочных резисторов.-Мн.: Навука i тэхнiка, 2007 - 250 с. 4. Гурский Л.И., Румак Н.В., Куксо В.В. Зарядовые свойства МОП-структур.-Мн.: Навука i тэхнiка, 2000 - 200 с. |