Реферат: Конструирование микросхемы, разработка топологии
Название: Конструирование микросхемы, разработка топологии Раздел: Рефераты по технологии Тип: реферат | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
I. Анализ электрической схемы Расчёт мощностей рассеяния Pi Для упрощения расчётов Pi резисторов R4 , R5 , R8 , R9 , R10 , R12 и R19 преобразуем выделенную часть схемы рис.1 (только те ветви, на которых находятся вышеуказанные резисторы) в эквивалентную (рис.2). Рассчитываем токи в контурах эквивалентной схемы рис.2 методом контурных токов. I111 (R4 +R19 +R8 +R12 )-I222 (R19 +R12 )-I444 R4 =0 I222 (R19 +R12 +R10 )-I111 (R19 +R12 )-I333 R10 =0I333 (R10 +R5 +R9 )-I222 R10 -I444 R5 =0I444 (R4 +R5 )-I111 R4 -I333 R5 =E= 111059850000 – 49237209000 – 11055924000 = 50766717000 = 345450 + 16405950 = 16751400 ; I111 = = 0,000329968 A
= 775500 + 16250850 = 17026350 ; I222 = = 0,000335384 A = 25030500 – 10804500 + 11399850 = 25625850 ; I333 = = 0,00050478 A = 164059500 – 72390150 = 91669350 ; I444 = = 0,0018057 A Зная контурные токи, мы можем рассчитать: I4 = I444 – I111 = 0,0018057 - 0,000329968 = 0,001475732 A I5 = I444 – I333 = 0,0018057 - 0,00050478 = 0,00130092 A I8 = I111 = 0,000329968 AI9 = I333 = 0,00050478 AI10 = I333 – I222 = 0,00050478 - 0,000335384 = 0,000169396 AI12 = I1 9 = I222 – I111 = 0,000335384 - 0,000329968 = 0,000005416 AТеперь рассчитываем токи на остальных резисторах: Для расчёта тока на резисторах R11 , R13 и R14 представимконденсатор на 9-ом выводе как резистор с самым большим сопротивлением, которое только имеем на схеме УПЧ и схеме его включения (Rдобавочное =22000+22000=44000 Om см. паспорт МС), т.е.: Для более точного подсчёта I15 – I18 подробнее рассмотрим транзистор V1: где b - коэффициент передачи тока (bКТ31 7 А @70) II. Разработка маршрутного технологического процесса изготовления микросхемы. Наиболее простым способом формирования рисунка микросхемы является напыление элементов через свободные маски. Если при этом зазор между маской и подложкой отсутствует, линейные размеры элементов строго соответствуют размерам щелей в маске (метод контактной маски). Наличие зазора между подложкой и маской, устранить который полностью невозможно, приводит к образованию «зоны размытости» рисунка. Причём размер этой зоны, как показывает практика, увеличивается с ростом толщины маски и клинообразности профиля её вырезов. С уменьшением же толщины снижается жёсткость маски и увеличивается её «провисание» над подложкой, что, в свою очередь, также приводит к росту зоны размытости. Напыление резистивных и проводниковых плёнок выполняется в одной вакуумной камере в непрерывном процессе. Для сублимации применяют резистивный испаритель, покрытый гальваническим слоем сублимируемого вещества либо стержень из спрессованного и спёченного порошка сублимируемого вещества, а вещества, плохо взаимодействующие с тугоплавкими материалами испаряют из жидкого состояния. Напыления ведут на подогретые подложки, температуру которых регулируют изменением тока нагревателя. При достижении требуемой температуры подложек испаритель подводят на позицию испарения и подают на него напряжение. При нагреве испарителя вакуум в камере ухудшается, так как с поверхности испарителя происходит выделение газов. После окончания газовыделения и восстановления вакуума открывают заслонку и напыляют пленку сублимируемого вещества. При достижении требуемой толщины плёнки заслонку закрывают, на позицию переводят следующую подложку и так процесс продолжают для напыления плёнки на все подложки. Нанесение Нанесение проводников резистивного слоя и контактных площадок Маска Подложка III. Расчёт геометрических размеров плёночных элементов. Прежде всего, для расчёта геометрических размеров резисторов нужно найти мощность P, рассеиваемую каждым резистором.Рассеиваемая мощность на резисторе находится по формуле: (1), где i – номер элемента. Применяя формулу (1) найдём Pi для каждого резистора (см. таблицу 1). Так как резисторы R1 , R5 , R7 , R9 , R10 , R14 , R15 , R18 меньше 1000 Ом, то размещать их будем на другом слое. Теперь, для того, чтобы выбрать материал, из которого будут изготавливаться резистивные плёнки, проводники и контактные площадки нужно найти удельное поверхностное сопротивление резистивной плёнки для каждого слоя по формуле (значения Rопт см. таблицу 1):Зная Rопт для каждого слоя, можем выбрать материал резистивной плёнки, контактных площадок и проводников, а также температурный коэффициент сопротивления a и допустимую удельную мощность рассеяния P0 соответствующий выбранному материалу:I слой : резистивная плёнка – нихром, проволока Х20Н80 (ГОСТ 12766-67) Контактные площадки и проводники - медь a = 1×10-4 P0 = 2 Вт/см2 II слой : резистивная плёнка – кермет К-50С (ЕТО.021.013 ТУ) Контактные площадки и проводники - золото с подслоем хрома (нихрома) a = -4×10-4 P0 = 2 Вт/см2 Зная величину каждого резистора и Rо слоя, в котором он находятся, можно найти коэффициент формы для каждого резистора данного слоя: где Кф – коэффициент формы плёночного элемента (значения Кф см. в таблице 1). Теперь рассчитаем погрешность коэффициента формы: Таблица 1.
1).Для резисторов с 1 £K Ф £ 10 Рассчитываем ширину резистора : Рассчитываем длину резисторов: где h – длина перекрытия для плёночных элементов, расположенных в разных слоях (h ³ 0,2 мм). 2).Для резисторов с 0,1 £KФ £ 1 Рассчитываем длину резисторов: Рассчитываем ширину резисторов: Площадь резисторов равна: Значения ширины, длины и площади каждого резистора см. таблицу 2. Проверка: 1). Таблица 2.
2). 3).
|